In:
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Vol. 66, No. 1 ( 2019-1), p. 233-239
Materialart:
Online-Ressource
ISSN:
0018-9499
,
1558-1578
DOI:
10.1109/TNS.2018.2882944
Sprache:
Unbekannt
Verlag:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Publikationsdatum:
2019
ZDB Id:
218510-6
ZDB Id:
2025398-9
Permalink