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    Electronic Resource
    Electronic Resource
    New York, NY [u.a.] : Wiley-Blackwell
    X-Ray Spectrometry 4 (1975), S. 161-165 
    ISSN: 0049-8246
    Keywords: Chemistry ; Analytical Chemistry and Spectroscopy
    Source: Wiley InterScience Backfile Collection 1832-2000
    Topics: Physics
    Description / Table of Contents: K shell ionization and X-ray production cross-section have been determined by proton impact from measurement of K X-ray yields from thin targets of Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni and Cu. The proton energies varied from 0.4 to 2.3 MeV and the X-rays are recorded with a high resolution X-ray Si(Li) detector. Ionization cross-sections have been compared with predictions of the plane wave Born approximation and the binary encounter approximation. Kβ/Kα ratios have been determined and compared with determinations from other sources.
    Notes: Les sections efficaces de production de rayonnement X émis par suite de bombardement de protons de moyenne énergie (0,4 à 2,3 MeV) sont mesurées avec un détecteur Si(Li) à haute résolution. La séries des corps suivants a été étudiée: Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu. Les courbes d'ionisation sont déduites et le résultat est comparé avec des calculs obtenus à partir du modèle théorique de l'approximation de Born par ondes planes et du modèle semi-classique. La comparasion fait apparaître la faiblesse des deux modèles dans cette région d'énergie. Des écarts importants apparaissent entre les rapports d'intensité Kα et Kβ provenant de différentes sources.
    Additional Material: 3 Ill.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Location Call Number Limitation Availability
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