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  • 1935-1939  (6)
  • 1930-1934  (3)
Document type
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  • 1
    Online Resource
    Online Resource
    Gasentladungs- Tabellen : Tabellen, Formeln und Kurven Zur Physik und Technik der Elektronen und Ionen. (1935)
    Berlin, Heidelberg :Springer Berlin / Heidelberg,
    Details
    Keywords: Electronic books.
    Type of Medium: Online Resource
    Pages: 1 online resource (184 pages)
    Edition: 1st ed.
    ISBN: 9783642910449
    URL: https://ebookcentral.proquest.com/lib/geomar/detail.action?docID=6591646
    Language: German
    Location Call Number Limitation Availability
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    GEOMAR EBL
  • 2
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Gasentladungstabellen (1935)
    s.l. : American Chemical Society
    The @journal of physical chemistry 〈Washington, DC〉 39 (1935), S. 916-917 
    Details
    Source: ACS Legacy Archives
    Topics: Chemistry and Pharmacology , Physics
    Type of Medium: Electronic Resource
    URL: http://dx.doi.org/10.1021/j150366a024
    Location Call Number Limitation Availability
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    Paper (German National Licenses)
    Fulltext
  • 3
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Änderung der sekundären Elektronenemission von Isolatoren und Halbleitern durch Elektronenbestrahlung (1936)
    Springer
    Naturwissenschaften 24 (1936), S. 345-345 
    Details
    ISSN: 1432-1904
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Biology , Chemistry and Pharmacology , Natural Sciences in General
    Type of Medium: Electronic Resource
    URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF01483562
    Location Call Number Limitation Availability
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    Paper (German National Licenses)
    Fulltext
  • 4
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Das Elektronenmikroskop (1932)
    Springer
    The European physical journal 78 (1932), S. 318-339 
    Details
    ISSN: 1434-601X
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Physics
    Notes: Zusammenfassung Die wichtigsten elektronenoptischen Abbildungssysteme und ihre Eignung für die vergrößerte Abbildung elektronenemittierender Objekte werden diskutiert. Die allgemeinen Bedingungen für fehlerfreie Bilder, Definition und Grenze des Auflösungsvermögens werden angegeben. Ein magnetisches Elektronenmikroskop mit kalter Kathode für schnelle Elektronen und die Ausführung magnetischer Linsen werden beschrieben und mehrere Mikrophotogramme wiedergegeben. Die Untersuchungsmethoden des Elektronenmikroskops und geeignete Abbildungssysteme für ein Ionenmikroskop werden besprochen.
    Type of Medium: Electronic Resource
    URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF01342199
    Location Call Number Limitation Availability
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    Paper (German National Licenses)
    Fulltext
  • 5
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Das Elektronenmikroskop (1932)
    Springer
    The European physical journal 79 (1932), S. 699-699 
    Details
    ISSN: 1434-601X
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Physics
    Type of Medium: Electronic Resource
    URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF01330526
    Location Call Number Limitation Availability
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    Paper (German National Licenses)
    Fulltext
  • 6
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Untersuchung der Emissionsverteilung an Glühkathoden mit dem magnetischen Elektronenmikroskop (1932)
    Springer
    The European physical journal 78 (1932), S. 340-362 
    Details
    ISSN: 1434-601X
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Physics
    Notes: Zusammenfassung Ein magnetisches Elektronenmikroskop zur Untersuchung elektronenemittierender Substanzen wird angegeben und seine Anwendung beschrieben. Die geometrische Ähnlichkeit der Elektronenbilder mit dem Objekt wird geprüft und die Emissionsverteilung verschiedenartiger, nach verschiedenen Verfahren aufgebrachter und verschieden behandelter Oxydkathoden in Mikrophotogrammen wiedergegeben. Es wird gezeigt, daß an Stellen starker Emission (Glühinseln) vor der Kathode Gebiete negativer Raumladung (Elektronenwolken) unmittelbar zu beobachten sind. Die hierbei auftretenden Erscheinungen werden gedeutet und einige der sich ergebenden Folgerungen für die Charakteristik von Oxydkathoden besprochen.
    Type of Medium: Electronic Resource
    URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF01342200
    Location Call Number Limitation Availability
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    Paper (German National Licenses)
    Fulltext
  • 7
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Untersuchung der Elektronenbündelung durch konkave GlühkathodenoberflÄchen mit dem Elektronenmikroskop (1935)
    Springer
    The European physical journal 96 (1935), S. 612-619 
    Details
    ISSN: 1434-601X
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Physics
    Notes: Zusammenfassung Die vergrö\erte elektronenoptische Abbildung kleiner Vertiefungen (Furchen von halbkreisförmigem oder dreieckigem Querschnitt, kalottenförmig begrenzte Löcher) in Bariumdampf-Glühkathoden zeigt deutlich den Effekt der Elektronen-bündelung an diesen Stellen; die Annahme, da\ die Entstehung kurz nach-einander einstellbarer positiver und negativer Strichgitterabbildungen von GlühkathodenoberflÄchen auf Elektronenbündelung zurückzuführen ist, wird damit bestÄtigt. Der Fokusabstand der Elementarbündel hÄngt vom Krüm-mungsradius der Vertiefung und von der Elektronenstromdichte ab. Die aus der gemessenen SpulenstromÄnderung für Scharfeinstellung einerseits und die aus dem Potentialfeld andererseits berechnete virtuelle Furchentiefe stimmen genau genug überein. Aus der gemessenen (virtuellen) Furchentiefe kann auf die wirkliche Furchentiefe jedoch nur dann geschlossen werden, wenn das Potentialfeld vor der Furche bekannt ist.
    Type of Medium: Electronic Resource
    URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF01337676
    Location Call Number Limitation Availability
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    Paper (German National Licenses)
    Fulltext
  • 8
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Brennweite und Bildqualität der Kreisloch-Elektronenlinse mit Mittelnetz (1938)
    Springer
    The European physical journal 110 (1938), S. 233-236 
    Details
    ISSN: 1434-601X
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Physics
    Notes: Zusammenfassung Die abgeleitete genaue Brennweitenformel der Kreisloch-Elektronenlinse mit zwei Lochscheiben und Mittelnetz wird mit der bekannten angenäherten Formel und mit dem Experiment verglichen. Eine Kurventafel der Brennweiten wird für verschiedene Linsenabmessungen angegeben.
    Type of Medium: Electronic Resource
    URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF01342870
    Location Call Number Limitation Availability
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    Paper (German National Licenses)
    Fulltext
  • 9
    Electronic Resource
    Electronic Resource
    Elektronenabtaster zur Strukturabbildung von Oberflächen und dünnen Schichten (1939)
    Springer
    The European physical journal 113 (1939), S. 260-280 
    Details
    ISSN: 1434-601X
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Physics
    Notes: Zusammenfassung Von den elektronenoptischen Methoden zur Abbildung der Struktur von Oberflächen und dünnen Schichten sind grundsätzlich die mitruhendem Elektronenstrahl, d. h. gleichzeitiger Bestrahlung aller Teile des Objektes, zu unterscheiden Von denen mitbewegtem Elektronenstrahl („Elektronenabtaster“). Bei diesen befindet sich das Objekt auf einer Metallplatte („lSignalplatte“), die als Prallelektrode in einer Kathodenstrahlröhre angeordnet ist; der spitze Elektronenstrahl tastet die Oberfläche des Objektes in Form eines Parallelzeilenrasters ab. Zur Wiedergabe des Strukturbildes wird die Signalplatte über einen Verstärker mit der Steuerelektrode einerBildschreibröhre verbunden, deren Elektronenstrahl sich synchron mit dem Objektabtaststrahl bewegt. Das „elektrische Bildsignal“ entsteht dabei in dem Stromkreis der am Objekt ausgelösten Sekundärelektronen; das Strukturbild kommt also durch Sekundäremissionsunterschiede in der Objektoberfläche zustande. Bei schlecht leitenden bzw. isolierenden Objekten ist diesem Sekundäremissionsbild noch ein Bild der Widerstandsbzw. Kapazitätsverteilung des Objektes überlagert. Das Auflösungsvermögen für kleinste Strukturabstände (geometrisches Auflösungsvermögen) und für kleinste Strukturunterschiede (Kontrastauflösungsvermögen) wird diskutiert. Die Anwendungsmöglichkeiten der Strukturabbildung mit dem Elektronenabtaster werden an einigen Beispielen gezeigt.
    Type of Medium: Electronic Resource
    URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF01341357
    Location Call Number Limitation Availability
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    Paper (German National Licenses)
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