In:
Chemischer Informationsdienst, Wiley, Vol. 4, No. 3 ( 1973-01-16)
Abstract:
Elektronenmikroskopische Untersuchungen an stark mit P oder As dotierten Si‐Ge‐Legierungen nach längerem Erhitzen auf 500°C lassen die Ausscheidung einer zweiten Phase erkennen.
Type of Medium:
Online Resource
ISSN:
0009-2975
,
2199-2924
DOI:
10.1002/chin.197303004
Language:
English
Publisher:
Wiley
Publication Date:
1973
detail.hit.zdb_id:
218761-9
Permalink