In:
tm - Technisches Messen, Walter de Gruyter GmbH, Vol. 84, No. 9 ( 2017-9-26), p. 557-567
Abstract:
Laserstreulichtmessungen auf der Basis von
Specklekorrelationsverfahren charakterisieren Gestaltabweichung opaker, technischer Oberflächen auf der Mikro- und
Nanometerskala. Anhand eines einzigen Streulichtbildes lässt sich die Rauheit eines mit Laserlicht beleuchteten Oberflächenbereiches
mit mehreren Millimetern Durchmesser quantitativ bewerten. Mit hohen Laser-Lichtleistungen, kurzen Belichtungszeiten und einer Kamera mit
hoher Bildrate lassen sich in laufenden Fertigungsprozessen „scharfe“ Bilder erzeugen, die für die rauheitsbezogene
Bildauswertung geeignet sind. Die Bildauswertealgorithmen lassen sich für die Implementierung auf einer leistungsfähigen Hardware
(FPGA – Field Programmable Gate Array) anpassen. Dies ermöglicht fertigungsnahe und In-Prozess-Rauheitsmessungen an technischen
Oberflächen in Echtzeit mit einer Messrate von über 1,3 kHz und einer lückenlosen Oberflächenabdeckung von
nahezu 4 m 2 /min bei einer Bewegungsgeschwindigkeit von
1600 m/min. Der vorliegende Beitrag beschreibt den Aufbau und die Funktionsweise eines In-Prozess-Laserstreulichtmesssystems für die
Charakterisierung schnell bewegter, spiegelnder Oberflächen und stellt erste Messergebnisse vor.
Type of Medium:
Online Resource
ISSN:
0171-8096
,
2196-7113
DOI:
10.1515/teme-2016-0075
Language:
English
Publisher:
Walter de Gruyter GmbH
Publication Date:
2017
detail.hit.zdb_id:
2025790-9
SSG:
15,3
Permalink